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新型的LSP-X1 掃描測(cè)頭,既能夠提供高精度測(cè)頭的精密計(jì)量工具,又能夠和TESASTAR-m 自動(dòng)分度測(cè)座完美匹配。點(diǎn)到點(diǎn)和連續(xù)掃描兩種模式都能夠全面兼容,是中等尺寸的楞邊復(fù)雜型和曲面復(fù)雜型工件的理想檢測(cè)方案。LSP-X1具有兩種吸盤,并且可以支持長(zhǎng)達(dá)220mm 以內(nèi)的各種探針。吸盤的自動(dòng)更換可以通過TESASTAR-r 自動(dòng)更換架實(shí)現(xiàn),也可以通過專門的支架僅僅更換探針。這種磁吸測(cè)頭系統(tǒng)能夠快速和高重復(fù)性的完成更換。
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