THORLABS光束質(zhì)量分析系統(tǒng)M2MS-AL

這些擴(kuò)展裝置用于將Thorlabs的相機(jī)式或掃描狹縫式光束分析儀擴(kuò)展成全自動的電動M²測量系統(tǒng)。M2MS內(nèi)有用于400到2700 nm的反射鏡，而M2MS-AL內(nèi)有用于250到600 nm的反射鏡。入射端口處的磁性安裝座便于根據(jù)激光光源更換鍍增透膜的透鏡(請見下文字框)，從而優(yōu)化系統(tǒng)。

光束質(zhì)量分析儀和聚焦透鏡的位置保持固定。對于M2測量，光程可以通過安裝在上一代DDSM100/M位移臺上的可移動回射器改變，位移臺的行程范圍是200 mm，速度為max.500 mm/s。

M²測量系統(tǒng)的側(cè)面有一個(gè)集成的USB2.0集線器，包含的端口用于連接光束質(zhì)量分析儀和TSP01 USB溫度和濕度控制器等器件，另外還有一個(gè)連接電腦的迷你USB輸出接口。系統(tǒng)內(nèi)的位移臺也是通過這個(gè)集線器和電腦通信。系統(tǒng)通過Thorlabs Beam軟件控制，此軟件也能控制我們的光束質(zhì)量分析儀(請見軟件標(biāo)簽)，能夠確保準(zhǔn)確地測量多種光束相關(guān)的參數(shù)。

M2測量系統(tǒng)的外殼安裝在底座四角由0.5 mm深的退刀槽形成的支腳上。它還附帶一組RDF1橡膠減振支腳。通過五個(gè)M6螺紋孔靠近四角安裝四個(gè)減振支腳，或使用三個(gè)減振支腳的配置。

• 組合BP209掃描狹縫式光束質(zhì)量分析儀搭建完整的M²測量系統(tǒng)
• 反射鏡用于250 - 600 nm或400 - 2700 nm
• 安裝轉(zhuǎn)接件，用于BC106N相機(jī)式和BP209掃描狹縫式光束質(zhì)量分析儀
• 附帶一個(gè)對準(zhǔn)激光器