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S-TEST/16 Fab是一種用于具有數(shù)字接口的傳感器的緊湊型系統(tǒng)級測試解決方案(SLT)。它可用于測試和表征多達(dá)16個IO引腳的數(shù)字傳感器。該系統(tǒng)專為大規(guī)模生產(chǎn)環(huán)境和測試平臺而設(shè)計。它允許輕松擴(kuò)展測試能力,并可以與各種傳感器設(shè)備處理系統(tǒng)結(jié)合使用。該設(shè)備可容納16個S-TEST通用測試板(UTB),每個測試板可為4個傳感器提供接口資源。系統(tǒng)主通信接口為底盤通信控制器(CCB/ETH15)。它提供TCP/IP連接、系統(tǒng)校準(zhǔn)功能以及外部觸發(fā)輸入和輸出。
S-TEST(BSI)風(fēng)扇單元(1HE)
產(chǎn)地:德國
支持的UTB數(shù)量:16
DUT I/O引腳的數(shù)量:max.16
可連接傳感器的數(shù)量:max.64個
支持的數(shù)字接口:I2C、mipi I3C、SPI、CAN-FD、LIN、PSI5、SENT、JTAG、TDM、ZACWire
電源范圍:100 V…240 V,50/60 Hz
工作溫度范圍:20°C…35°C
儲存溫度范圍:-25°C…+55°C
相對濕度:40%…80%
尺寸(高x寬x長):134毫米x 485毫米x 563毫米(帶前把手)
重量:9.6公斤
帶數(shù)字接口的傳感器系統(tǒng)級測試平臺
傳感器批量生產(chǎn)期間的傳感器最終測試
傳感器特性和功能驗證
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