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EXFO的OSICS BKR可模擬光纖系統(tǒng)內(nèi)所有光接口上的反射率。它可在研發(fā)中作為良好的工具來測(cè)試背向反射對(duì)應(yīng)答器原型造成的影響,以及在PON/WDM系統(tǒng)中對(duì)發(fā)射器和接收器進(jìn)行壓力測(cè)試。
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